本論文首先找尋二維溫度場全像干涉條紋可以視為等溫線的範圍，接著探討此干涉條
紋示可以視為等溫線的誤差原因及校正公式。若以５％的誤差量作為標法時，各項誤
差需校正與否的準則與校正公式分別為：
１．當σ／L ＞３／４０時，應使用△Ｔ=２／３Ｙ／Ｌ（Ｔ－Ｔ∞） 之公式進行邊
緣效應誤差的校正。
２．當（ｄｎ／ｄｙ）2‧Ｌ3／ｎ‧λ≧０．０３。，而且條紋密度介於３條／㎜時
與１０條／ｍｍ之間時，應使用
2
ｄｎ ｄＴ 2 Ｌ
△Ｔ＝（───）（───） ───
ｄＴ ｄｙ ６ｎ
的公式進行偏光誤的校正。
３．當ｄｎ／ｄｙ≠Ｃ時而且條紋密度大於１０條／㎜時，應使用
（圖表省略）
之公式進行聚焦面誤差的校正。
４．當條紋密度非常高時，應使用選擇最佳聚焦面的電腦程式，找出最佳的聚焦面後，
再拍攝干涉條紋與解析。
本論文更一步將各項誤差的校正法則與校正公式合併，建立完整的二維溫度場全像干
涉條紋解析程式，並以圓管外的溫度天涉條紋為例，電腦解析之結果與傳統方法（熱
電偶測量）相比較其誤差在６．４％以內，與數值解法相比較其誤差在１０％以內。