簡易檢索 / 詳目顯示
| 研究生： |
陳怡華 chen yi hwa |
|---|---|
| 論文名稱： |
鈮酸鋰晶體摻不同濃度鋅雜質之聲子研究 |
| 指導教授： |
余健治
Yu, Jiang-Tsu 賈至達 Chia, Chih-Ta |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
物理學系 Department of Physics |
| 論文出版年： | 2000 |
| 畢業學年度： | 88 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 59 |
| 中文關鍵詞： | 鈮酸鋰 、鋅 、聲子 |
| 論文種類： | 學術論文 |
| 相關次數： | 點閱：199 下載：11 |
| 分享至: |
| 查詢本校圖書館目錄 查詢臺灣博碩士論文知識加值系統 勘誤回報 |
摘要
本文利用拉曼光譜儀來研究 晶體摻 雜質之濃度與聲子變化的關係。
從實驗數據分析中，我們看到摻 雜質之濃度對拉曼光譜聲子的半高寬及波峰位置的影響，其中主要類型有四種：
(1). 波峰位置不隨摻 濃度改變，半高寬隨摻 濃度變大。
(2). 波峰位置隨摻 濃度向低頻移動，半高寬隨摻 濃度變大。
(3). 波峰位置隨摻 濃度向高頻移動，半高寬隨摻 濃度變大。
(4). 波峰位置不隨摻 濃度改變，半高寬先減後增。
我們發現溫度對波峰位置的影響很大，同時，溫度與摻 濃度均會對聲子造成耦合效應；當溫度升高或摻 濃度增加時，258 與279 ，322與335 ，580 與628 ，430 與445 會有合而為一的趨勢。
摻 雜質時，當 濃度在0~3mole% 時， 會取代 ，當濃度在3~5.5mole% 時， 會取代 ，在5.5mole% (threshold)之後， 只取代 ；在摻 之鈮酸鋰的半高寬變化方面，當 濃度在3~4mole% 與7mole%時有明顯不同，即其半高寬有很明顯之三段變化；而 與 均為二價，且 之陰電性比 高，所以我們推測在 濃度為0~3.5mole% 時， 先取代 ，3.5~7mole% 時， 同時取代 及 ，當7mole%(threshold)之後， 只能取代 。
參考文獻
[1] A. Ashkin, G. D. Boyd, J. M. Dziedzic, R. G. Smith, A. A. Bullman, J. J. Levinstein and K. Nassau, "Optical-induced refractive index inhomogeneity in LiNbO3 and LiTaO3 ," Appl. Phys. Lett. 9 72 (1966).
[2] J. P. Huignard and P. Gunter, Photorefractive Materials and Their Applications：I . Fundamental Phenomena；Photorefractive Materials and Their Applications：II . Applications, (Springer-Verlag, New York, 1988, 1989).
[3] F. S. Chen, "Optically induced change of refractive indices in LiNbO3 and LiTaO3 , " J. Appl. Phys. lett. 44 948 (1984).
[4] A. Räuber, In Current Topic Material Sciences, (North-Holland, Amsterdam 1978).
[5] R. S. Weis, T. K. Gaylord, Appl. Phys. A 37 191 (1985).
[6] G. Malovichko, V. Grachev, O. Schirmer, "Interrelation of intrinsic and extrinsic defects-congruent, stoichiometric, and regularly ordered lithium niobate," Appl. Phys. B 68 785(1999).
[7] K. Polgar, A. Peter, L. Kovacs, G. Corradi, Zs. Szaller, J. Cryst. Growth 177 211 (1999).
[8] S. C. Abrahams, J. M. Reddy, J. L. Bernstein, J. Phys. Chem. Solids 27 997 (1966).
[9] S. C. Abrahams, J. M. Reddy, J. L. Bernstein, J. Phys. Chem. Solids 27 1019 (1966).
[10] O. Schirmer, O. Thiemann, M. Wöhlecke, J. Phys. Chem. Solids 52 185 (1991).
[11] S. C. Abrahams, P. Marsh, Acta Crystallogr., Sect. B：Struct. Sci. 42 61 (1986)
[12] G. E. Peterson, A. Carnevale：J. Chem. Phys. 56 4648 (1972).
[13] P. Lerner, C. Legras, and J. P. Dumas, J. Cryst. Growth 3/4 231 (1968).
[14] N. Iyi, K. Kitamura, F. Izumi, J. K. Yamamoto, T. Hayashi, H. Asano, and X Kimura, J. Solid State Chem.101 340 (1992).
[15] A. P. Wilkinson, A. K. Cheetham, and R. H. Jarman, J. Appl. Phys. 74 3080 (1993).
[16] N. Zotov, H. Boysen, F. Frey, T. Metzger, and E. Born, J. Phys. Chem. Solids 55 145 (1994).
[17] D. M. Smith, Ferroelectrics 50 93 (1983).
[18] Ch. Leroux, G. Nihoul, G. Malovichko, V. Grachev,Cl. Boulesteix：J. Phys. Chem. Solids 59 311(1998).
[19] Y. C. Ge, C. Z. Zhao, W. B. Wang, Spectroscopy Lett. 30 6 (1997).
[20] R. F. Schaufele, Phys. Review 152 (1996)
[21] Y. Repelin, E. Husson, Fbennani, C. Proust, J. Phys. Chem. Solids 60 819(1999).
[22] E. Husson, Y. Repelin, C. R. Acad.Sci. Paris 296 1405 (1983).
[23] E. Husson, Y. Repelin, Rev. Chimie Minérale 22 24 (1985).
[24] H. Donnerberg, S. M. Tomlinson, S. R. A. Catlow, and O. F. Schirmer, Phys. Rev. B 40 11909 (1989).
[25] H. Donnerberg, S. M. Tomlinson, S. R. A. Catlow, and O. F. Schirmer, Phys. Rev. B 44 4877 (1991).
[26] O. F. Schirmer, O. Thiemann, and M. Wöhlecke, J. Phys. Chem. Solid 52 185 (1991)
[27] K. L. Sweeney, L. E. Halliburton, D. A. Bryan, R. R. Rice, R. Gerson, and H. E. Tomaschke, J. Appl. Phys. 57 1036 (1985).
[28] J. Koppitz, O. F. Schirmer, M. Wöhlecke, A. I. Kusnetsov, and B. C. Grabmaier, Ferroelectrics 92 233 (1989).
[29] M. E. Lines, A. M. Glass, Principles and application of ferroelectrics and related materials