硫酸鋰鉀晶體（簡稱 LPS）在最近幾年被廣汎地提出來討論．LPS 晶體結構早在１９
２５年由A.J.BRADLEY 以Ｘ光繞射的方法大致決定，其後在最近幾年陸續有人探討LP
S 晶體在高溫，低溫，室溫時皂結構，但眾說云，沒有一致的定論，本實驗欲藉由Ｘ
光繞射的方法，分析LPS 晶體繞射強度，採最小平方法，找出一個與實驗值十分吻合
的模型，以確定LPS 晶體在室溫時的結構，此外我們以氣流式來冷卻晶體，漸近地降
溫，拍攝LPS 晶體在低溫的勞埃（LAUE），進動（PRECESSION）繞射相圖，以決定各
種溫度下所發生相變的情形，並進一步探討其晶系，空間群及晶格大小，同時建立一
套低溫Ｘ光繞射裝置。
我們依據實驗的結果認為硫酸鋰鉀晶體，在２５０Ｋ所有的繞射點強度均增強，係晶
體中的原子受熱擾動的影響均較室溫為低，所以原子的排列較規則所致的，在２３０
Ｋ時硫酸鋰鉀晶體的繞射點有劈裂（SPLITTING） 現象，可能是雙晶（TWIN）晶域的
突然生成所致，此外我們認為硫酸鋰鉀晶體在２５０Ｋ有Ｐ６３到Ｐ６３mc的相變發
生，在１９０Ｋ有從Ｐ６３mc變回到ｐ６３相的可能，即所謂再回進的（REENTRANT
），而較不可能是Ｐ６３mc到Cmc ２１相的發生，１９０Ｋ以下的相變仍有待探討。
在分析硫酸鋰鉀晶體結構時，依據我們所收集室溫Ｘ光繞射強度的數據，而建立的模
型，我們有一吻合指數（AGREE-MENT FACTOR）R. 來幫助我們判斷模型的可靠度，我
們得到Ｒ＝０．０７６，在室溫時氧原子有異常（ANOMALOUS） 現象。