摘 要
本論文包含三個研究主題。一、將KDP與ADP兩晶體加熱，並利用偏光顯微鏡沿a軸觀察兩晶體的光學變化，找出晶體的結構相變溫度。二、對兩晶體做熱分析測量(DSC與TGA)。三、沿a軸測量兩晶體在不同頻率下隨溫度變化之阻抗，經由計算得到晶體的電容率、導電係數、活化能、弛豫時間，藉由這些數值了晶體的導電、介電特性與溫度、頻率的關係。
利用加熱台在偏光顯微鏡下加熱兩晶體，我們沒有觀察到任何結構相變的光學變化，建議可從c軸觀察。我們對兩晶體進行熱分析測量，DSC與TGA兩曲線有相互重疊，表示晶體吸熱現象並非是結構相變所造成，而是熱分解的結果。
KDP晶體的介電常數與導電係數在180℃附近有異常。ADP晶體的介電常數在120℃~140℃有變化，導電係數沒觀察到特別的變化。
Electric Modulus 來研究晶體弛豫，該兩晶體的弛豫現象以導電弛豫為主，配合Williams-Watt form的衰減函數 來擬合M實驗曲線，可得到更佳擬合。

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