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研究生: 鄭文凱
Cheng, Wen-Kai
論文名稱: 含十六族元素 (硒、碲) 之錳團簇化合物的合成、轉換關係、化性及物性之探討
Group 16 (Se, Te)-Containing Manganese Carbonyl Clusters: Synthesis, Transformation, Reactivity and Physical Properties
指導教授: 謝明惠
Shieh, Ming-Huey
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 化學系
Department of Chemistry
論文出版年: 2017
畢業學年度: 105
語文別: 中文
論文頁數: 147
中文關鍵詞: 十六族元素錳團簇化合物羰基
英文關鍵詞: Chalcogenide, Manganese cluster, Carbonyl
DOI URL: https://doi.org/10.6345/NTNU202202746
論文種類: 學術論文
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  • Te−Mn−CO 系統
    將 Mn2(CO)10 與 Te powder 以莫耳比 1: 1.6 的比例於 2 M KOH/MeOH 反應可得四邊形錯合物 [Te2Mn2(CO)8]2− (1)。此外化合物 1 可作為良好的建構單元,於適當的條件與 Mn2(CO)10 反應,可形成螺環形 (spiro) 錯合物 [TeMn4(CO)16]2− (3) 或已發表之八面體結構團簇物 [Te2Mn4(CO)12]2−。另一方面,化合物 1 與 Te powder 進行擴核反應生成似啞鈴型團簇物 [Te10Mn6(CO)18]4− (5)或籃子型團簇物 [Te4Mn3(CO)10]−。同樣地,錯合物 3 以及團簇物 [Te4Mn3(CO)10]− 於高溫加入足量 Te powder 可進一步擴核成團簇物 5。除此之外,若團簇物 5 與 2 當量或 4.5 當量的 Mn2(CO)10 反應,則可轉換得到含氫配子之團簇物 [HTe2Mn3(CO)9]2− (2) 或雙魚型化合物 [Te6Mn6(CO)18]4− (4);相反地,團簇物 2 或 4 透過引入足量之 Te powder 可擴核成化合物 5。值得一提的是,當團簇物 2 與 HCl 反應,可生成已知雙三角錐化合物 [Te2Mn3(CO)9]−,並伴隨 H2 的產生。除此之外,將 2 依序與 CO 和 O2 反應,可得含氫配子之共邊二聚物 [H2Te4Mn6(CO)20]2‒ (6)。再者,當化合物 6 加入過量強酸 HBF4•Et2O 溶液時,則意外得到 CH2CH3+ 片段加成之化合物 [H2Te4Mn6(CO)20(CH2CH3)]– (7)。最後,此系列化合物之轉換關係及電化學分析之結果皆搭配理論計算來進行探討。
    Se−Mn−CO 系統
    將 Mn2(CO)10 與 Se powder 以莫耳比 1: 5.4 於 40 oC 之 2 M KOH/ MeOH/MeCN 混合溶劑下反應,可得似啞鈴型 (dumbbell-like) 二聚物 [Se10Mn6(CO)18]4‒ (1);然而,當反應溫度改由 0 oC 回室溫,則可得化合物 1 之單體 [Se5Mn3(CO)9]2‒ (1′)。當團簇物 1 與 2 當量 CH3I 反應,可得到 –CH3 片段加成於 Se10Mn6 之化合物 [Se10Mn6(CO)18(CH3)2]2‒ (2)。同樣地,當團簇物 1 加入雙鹵烷試劑 CH2X2 (X = Cl, Br) 或 Br(CH2)2Br 於室溫反應,可分別得到有機片段加成之化合物[Se10Mn6(CO)18(CH2Cl)2]2‒ (3)、[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2]2‒ (4) 及 [Se10Mn6(CO)18{(CH2)2Br}2]2‒ (5)。特別的是,當化合物 1 與過量 CH2Br2 反應長時間,則可得到兩個相似結構 (isostructural) 之四核錳化合物 [Se8Mn4(CO)18(Se)(CH2)]2‒ (6) 與 [Se8Mn4(CO)12(CH2)2]2‒ (7)。此外,化合物 3 進一步加入過量 AgBF4,同樣地可生成化合物 6 及 7。除此之外,若化合物 5 與 Br(CH2)2Br 反應長時間,則可得到化合物 [Se8Mn4(CO)18(Se)2]2‒ (8),再者,當化合物 1 與碳鏈較長的鹵烷試劑 Br(CH2)4Br 反應,可同樣地生成化合物 8。有趣的是,當化合物 8 與 CH2Cl2 在高溫下加熱迴流反應長時間,可成功單離相似結構之化合物 7,由此反應過程發現化合物 8 之末端 Se 原子可被等電子的 ‒CH2 片段置換。此外,藉由 SQUID 分析可知化合物 4 為一逆磁性物種,化合物 8 則透過 Evans’ method 以及電子順磁共振光譜探討其磁性以及未成對電子的表現。除此之外,藉由 X-ray 電子能譜儀、電化學、液態及固態紫外光譜,探討化合物 4、5 和 8 之錳價數對磁性表現的影響。最後上述之結果亦搭配密度泛函數理論 (DFT) 之理論計算加以佐證。

    Te−Mn−CO System
    The square complex, [Te2Mn2(CO)8]2− (1), was obtained from the reaction of Te powder with Mn2(CO)10 in KOH/MeOH solutions. This Te2Mn2 complex 1 was found to function as a useful synthon to prepare the spiro complex [TeMn4(CO)16]2− (3), dumbbell-like cluster [Te10Mn6(CO)18]4− (5), picnic-basket-like cluster [Te4Mn3(CO)10]2−, and octahedral complex [Te2Mn4(CO)12]2− under appropriate conditions. In addition, complex 3 and [Te4Mn3(CO)10]− could undergo cluster-expansion reaction to form 5 upon the addition of Te powder. Besides, cluster 5 could successfully transform into hydride-bridged cluster [HTe2Mn3(CO)9]2− (2) or [Te6Mn6(CO)18]4− (4) upon the treatment with 2 or 4.5 equivalents of Mn2(CO)10, respectively. Conversely, clusters 2 and 4 could be reconverted into 5 by the addition of Te powder in MeCN. Importantly, when 2 was treated with HCl at room temperature, the reported trigonal-bipyramidal complex [Te2Mn3(CO)9]– was produced, accompanied with the formation of H2. Further, when CO was bubbled into cluster 2 in MeCN at 0 oC, an intermediate [HTe2Mn3(CO)10]2− (2′) was formed which was detected by HR-MS, and then, upon addition of O2 into this reaction, a final stable product [H2Te4Mn6(CO)20]2−(6) was obtained in high yield. Interestingly, when the reaction of 6 with excess HBF4∙Et2O was carried out, an unexpected ethylated product [H2Te4Mn6(CO)20(CH2CH3)]− (7) was yielded. Finally, the nature, structural transformation, and electrochemical properties of these Te–Mn–CO clusters were elucidated by the density functional theory calculations.
    Se−Mn−CO System
    The reaction of Se powder and Mn2(CO)10 in appropriate ratios in refluxing 2 M KOH/MeOH/MeCN solutions led to the formation of the dumbbell-like cluster [Se10Mn6(CO)18]4− (1). The similar reaction in MeCN at 0 oC was allowed to warm up to room temperature, yielding the momeric of cluster 1, [Se5Mn3(CO)9]2‒ (1′), detected by FT-IR. Cluster 1 was treated with 2 equiv of CH3I to give the functionalized product [Se10Mn6(CO)18(CH3)2]2− (2). Moreover, cluster 1 could also undergo the –CH2X (X = Cl ,Br) and –(CH2)2Br fragments addition to give rise to [Se10Mn6(CO)18(CH2Cl)2]2‒ (3), [Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2]2‒ (4), and [Se10Mn6(CO)18{(CH2)2Br}2]2‒ (5), respectively. Importantly, cluster 1 with CH2Br2 in a long-time reaction led to the formation of isostructural complexes [Se8Mn4(CO)18(Se)(CH2)]2− (6) and [Se8Mn4(CO)12(CH2)2]2− (7), as evidenced by ESI-MS and FT-IR. Complex 4 could also be transformed into complexes 6 and 7 upon the addition of excess AgBF4. Furthermore, when cluster 1 was treated with Br(CH2)nBr (n = 2, 4) in long time, complex [Se8Mn4(CO)18(Se)2]2‒ (8) was obtained. Interestingly, complex 8 was reconverted into the isostructural cluster 7 upon treatment with CH2Cl2 solutions. The diamagnetic properties of complex 4 and paramagnetic behavior of complex 8 were evidence by SQUID analysis and Evans’ method, respectively. The oxidation state of manganese atoms of complexes 4, 5, and 8 can be further determined by HR-XPS. Finally, the nature, structural transformation, and electrochemical properties of these Se–Mn–CO clusters were elucidated by the density functional theory calculations.

    中文摘要 I Abstract IV 第一章 1 1.1 摘要 1 1.2 前言 3 1.3 研究目標 4 1.4 結果與討論 5 1.4-1 以 [Te2Mn2(CO)8]2– (1) 作為建構單元進行擴核反應 5 1.4-2 探討化合物 2、4 及 5 之轉換關係 8 1.4-3 化合物 2 反應性之探討 10 1.4-4 化合物 6 反應性之探討 11 1.4-5 電化學分析探討 14 1.5 結論 16 1.6 實驗部份 18 1.6-1 [TMBA][Te4Mn3(CO)10] 之合成 19 1.6-2 化合物 [PPN]2[7] 之 X-ray 結構解析 19 1.6-3 電化學分析 20 1.6-4 電子吸收光譜 21 1.6-5 X-ray 光電子能譜儀 21 1.7 氫氣的定量分析 22 1.7-1 檢量線製作 23 1.7-2 [PPN]2[2] 與 一當量 HCl 反應之氫氣定量4 24 1.7-3 [PPN]2[2] 與兩當量 HCl 反應之氫氣定量 25 1.8 理論計算 26 1.9 參考文獻 27 第二章 51 2.1 摘要 51 2.2 前言 53 2.3 目標 54 2.4 結果與討論 55 2.4-1 化合物 1 的合成 55 2.4-2 化合物 1 之有機加成反應 56 2.4-3 化合物 3‒5 之反應性探討 59 2.4-4 化合物 1 與 Br(CH2)4Br 之反應 61 2.4-5 化合物 8 轉換至 7 62 2.4-6 化合物 1′ 之合成與反應性 62 2.4-7 化合物 1、1′、2、3、5 及 9 之 X-ray 晶體結構比較 64 2.4-8 電化學分析探討 67 2.4-9 液態電子吸收光譜探討 69 2.4-10 固態反射式光譜探討 70 2.5 結論 71 2.6-1 [PPN]4[Se10Mn6(CO)18] ([PPN]4[1]) 之合成11 74 2.6-2 化合物 [PPN]4[1]、[PPN]2[2]、[PPN]2[3]、[PPN]2[4] 及 [PPN]2[6] 之 X-ray 結構解析 74 2.6-3 電化學分析 75 2.6-4 電子吸收光譜 76 2.5 理論計算 77 附錄 134 A.1 實驗部分 134 A.1-1 化合物 [PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-A 、 [PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-B 及 [PPh4]2[SeBiFe3(CO)9Cr2(CO)10] 之 X-ray 結構解析 135 A.1-2 電子吸收光譜 136 A.1-3參考文獻 137   圖解目錄 圖解1‒1:化合物 1‒5 之合成 5 圖解1‒2:化合物 1 之擴核反應 6 圖解1‒3:化合物 [Te4Mn3(CO)10]– 轉換成化合物 5 之反應機構圖 8 圖解1‒4:化合物 5 之反應性 8 圖解1‒5:化合物 2 轉換成化合物 5 之平衡反應式 9 圖解1‒6:化合物 2 之反應性 10 圖解1‒7:化合物 6 與 HBF4∙Et2O 之反應機制 12 圖解2‒1:化合物 1 之合成 55 圖解2‒2:化合物 1 與CH2Cl2 or Br(CH2)nBr (n = 1 or 2) 之反應 58 圖解2‒3:化合物 3 與 4 之反應性 59 圖解2‒4:化合物 5 與 Br(CH2)2Br 之反應 60 圖解2–5:化合物 1 與 Br(CH2)nBr (n = 2 or 4) 之反應 61 圖解2‒6:化合物 8 轉換至化合物 7 62 圖解2‒7:化合物 1’ 與 Br(CH2)nBr (n = 1 or 2) 之反應 63 圖解2‒8:化合物 1’ 與過量 CH2Cl2 之反應 64   圖目錄 圖1‒1:化合物 [Te4Mn3(CO)10]– 之 LUMO 軌域貢獻圖 7 圖1‒2:化合物 [H2Te4Mn6(CO)20]2– 之結構圖以及 space-filling 圖 12 圖1‒3:化合物 [H2Te4Mn6(CO)20]2– 之 LUMO 軌域貢獻圖 12 圖1‒4:化合物 7 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 13 圖1‒5:以玻璃碳電極於 MeCN 溶液中測量化合物 1 與 3 (濃度約為 10−3 M) 微分脈衝伏安法 (DPV) 之圖譜。電解質採用 [NBu4][ClO4] (0.1 M) 而掃描速率為 100 mVs−1。 15 圖2‒1:化合物 1 之晶體結構:(a) 96% 之 1 化合物、(b) 4% 之 1′ 化合物主體結構。 56 圖2‒2:化合物 1 之結構圖 (左) 以及 space‒filling 模型圖 (右) 58 圖2‒3:化合物 1 之 Se 原子 natural charge 分布圖10 58 圖2‒4:(a)化合物 4 之晶體結構 (b)化合物 5 之晶體結構。 61 圖2‒5:化合物 1 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 65 圖2‒6:化合物 1 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 65 圖2‒7:化合物 2 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 66 圖2‒8:化合物 3 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 66 圖2‒9:化合物 4 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 67 圖2−10:以玻璃碳電極於 MeCN 溶液中測量化合物 4 與 5 (濃度約為 10−3 M) 微分脈衝伏安法 (DPV) 之圖譜。 68 圖2−11:化合物 1、4、5 之 UV/vis 吸收光譜圖 69 圖2−12:化合物 4 及 5 之固態反射光譜圖 70   表目錄 表1‒1:化合物 3 與 6 以微分脈衝伏安法 (DPV) 所測得之電位數值 15 表2−3:化合物 4 與 5 之微分脈衝伏安法 (DPV) 測得之電位數值 69 表2−4:化合物4 及 5 之固態反射光譜圖之數據 70   附圖目錄 附圖1‒1:化合物 [PPN][H2Te4Mn6(CO)20(CH2CH3)] ([PPN][7]) 之晶體結構圖。 33 附圖1‒2:化合物 [PPN][H2Te4Mn6(CO)20(CH2CH3)] ([PPN][7]) 於 THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 34 附圖1‒3:化合物 [TMBA]2[TeMn4(CO)16] ([TMBA]2[3]) 之於MeCN 溶液測量之高解析液相層析電噴灑游離質譜圖,左圖為實驗圖,右圖為模擬圖。 35 附圖1‒4:化合物 [PPN][H2Te4Mn6(CO)20(CH2CH3)] ([PPN][7]) 之於MeCN 溶液測量之高解析液相層析電噴灑游離質譜圖,左圖為實驗圖,右圖為模擬圖。 36 附圖1‒5:化合物 [TMBA]2[TeMn4(CO)16] ([TMBA]2[3]) 溶於 CD3CN-d3 之 1H 核磁共振光譜圖。 37 附圖1‒6:化合物 [TMBA]2[Te2Mn2(CO)8] ([TMBA]2[1]) 溶於DMSO-d6 之 1H 核磁共振光譜圖。 38 附圖1‒7:[PPN]2[HTe2Mn3(CO)9] ([PPN]2[2]) 溶於 CD3CN-d3 與 3 當量 Te powder 反應之 1H 核磁共振光譜圖 (a) 起始物 (b) 反應 22 小時 (反應終止)。 39 附圖1‒8:化合物 [TMBA]2[TeMn4(CO)8] ([TMBA]2[3]) 於MeCN 測量之紫外/可見吸收光譜圖 (8.21 × 10−5 M)。 40 附圖1‒9:化合物 [TMBA]2[Te2Mn2(CO)8] ([TMBA]2[1]) 於MeCN 測量之紫外/可見吸收光譜圖 (3.37 × 10−4 M)。 41 附圖1‒10:化合物 [TMBA][Te4Mn3(CO)10] 於MeCN 測量之紫外/可見吸收光譜圖 (9.94 × 10−5 M)。 42 附圖1‒11:[TMBA][Te4Mn3(CO)10] 之反射式固態紫外/可見光譜圖。 43 附圖1‒12:以玻璃碳電極於 MeCN 溶液中測量 [TMBA]2[TeMn4(CO)8] ([TMBA]2[3]) 之 differential pulse voltammetry (DPVs) 圖譜。 44 附圖1‒13:以玻璃碳電極於 MeCN 溶液中測量 [TMBA]2[Te2Mn2(CO)8] ([TMBA]2[1]) 之 differential pulse voltammetry (DPVs) 圖譜。 45 附圖1‒14:以玻璃碳電極於 MeCN 溶液中測量 [TMBA][Te4Mn3(CO)10] 之 differential pulse voltammetry (DPVs) 圖譜。 46 附圖1‒15:氫氣之檢量線 47 附圖1‒16:[PPN]2[HTe2Mn3(CO)9] ([PPN]2[2]) 與 1 當量 HCl 反應 30 分鐘後之氣相層析圖與相關數據。 48 附圖1‒17:[PPN]2[HTe2Mn3(CO)9] ([PPN]2[2]) 與 2 當量 HCl 反應 30 分鐘後之氣相層析圖與相關數據。 49 附圖1‒18:化合物 [PPN]2[HTe2Mn3(CO)9] ([PPN]2[2]) 溶於CD3CN-d3 之1H 變溫核磁共振光譜圖 (a) 60 oC (b) 40 oC (c) 20 oC (d) 0 oC (e) 50 附圖2‒1:化合物 [PPN]4[Se10Mn6(CO)18] ([PPN]2[1]) 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 88 附圖2‒2:化合物 [PPN]4[Se10Mn6(CO)18] ([PPN]2[1]) 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 89 附圖2‒3:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Cl)2] ([PPN]2[3]) 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids) 90 附圖2‒4: 化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids)。 91 附圖2‒5:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH3)2] ([PPN]2[2]) 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids)。 92 附圖2‒6:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(CH2)(Se)] ([PPN]2[6]) 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids)。 93 附圖2‒7:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18] ([PPN]2[1]) 於 DMF 溶液測量之紅外線光譜圖。 94 附圖2‒8:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Cl)2] ([PPN]2[3]) 於THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 95 附圖2‒9:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(CH2)(Se)] ([PPN]2[6]) 及[PPN]2[Se8Mn4(CO)12(CH2)2] [PPN]2[7] 於THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 96 附圖2‒10:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 於 THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 97 附圖2‒11:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2CH2Br)2] ([PPN]2[5]) 於THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 98 附圖2‒12:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(Se)2] ([PPN]2[8]) 於THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 99 附圖2‒13:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH3)2] ([PPN]2[2]) 於THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 100 附圖2‒14:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(CH2)2] ([PPN]2[7]) 於THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 101 附圖2‒15:化合物 [PPN]2[Se5Mn3(CO)9] ([PPN]2[1′]) 於MeCN 溶液測量之紅外線光譜圖。 102 附圖2‒16:化合物 unknown 1 於THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 103 附圖2‒17:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 於MeCN 溶液測量之高解析液相層析電噴灑游離質譜圖,左圖為實驗圖,右圖為模擬圖 104 附圖2‒18:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2CH2Br)2] ([PPN]2[5]) 於MeCN 溶液測量之高解析液相層析電噴灑游離質譜圖,左圖為模擬圖,右圖為實驗圖。 105 附圖2‒19:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(Se)2] ([PPN]2[8]) 於MeCN 溶液測量之低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 106 附圖2‒20:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(Se)2] ([PPN]2[8]) 於MeCN 溶液測量之高解析液相層析電噴灑游離質譜圖,左圖為實驗圖,右圖為模擬圖。 107 附圖2‒ 21:化合物 [PPN]2[1] 於 40 oC 與 CH2Br2 反應一天後於MeCN 溶液測量低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。其中{[PPN][Se8Mn4(CO)12(CH2)2]}‒ at m/z 1754.79 {[PPN][Se8Mn4(CO)12(CH2)(Se)]}‒ at m/z 1818.51 108 附圖2‒22:化合物 [PPN]2[1] 於 40 oC 與 CH2Br2 反應三天又二十二個小時於MeCN 溶液測量之低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 109 附圖2‒23:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH3)2] ([PPN]2[2]) 於MeCN 溶液測量之高解析液相層析電噴灑游離質譜圖,左圖為實驗圖,右圖為模擬圖。 110 附圖2‒24:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(Se)(CH2)] ([PPN]2[6]) 於MeCN 溶液測量之高解析液相層析電噴灑游離質譜圖,左圖為實驗圖,右圖為模擬圖。 111 附圖2‒ 25:化合物 [PPN]2[3] 與 AgBF4 反應 1 小時後純化之低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 112 附圖2‒26:化合物 [PPN]2[8] 與 CH2Cl2 反應 5 天後之低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 113 附圖2‒27:化合物 [PPN]2[8] 與 CH2Cl2 反應 26 天後之低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 114 附圖2‒28:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(CH2)2]([PPN]2[7]) 之高解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 115 附圖2‒29:化合物 [PPN]2[Se5Mn3(CO)9] ([PPN]2[1′]) 與 CH2Cl2 反應 5 小時並純化後之低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 116 附圖2‒30:化合物 [PPN]2[Se8Mn4(CO)12(CH2)2]([PPN]2[7]) 低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 117 附圖2‒31:[PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH3)2] ([PPN]2[1]) 溶於 DMSO-d6 之 1H 核磁共振光譜圖。 118 附圖2‒32:[PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH3)2] ([PPN]2[1]) 溶於 DMSO-d6 之 13C 核磁共振光譜圖。 119 附圖2‒33:[PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH3)2] ([PPN]2[1]) 溶於 DMSO-d6 之異核單量子相關譜 (HSQC)。 120 附圖2‒34:[PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 溶於 DMSO-d6 之 1H 核磁共振光譜圖。 121 附圖2‒ 35:[PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 溶於 DMSO-d6 之 13C 核磁共振光譜圖。 122 附圖2‒36:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 溶於 DMSO-d6 之異核單量子相關譜 (HSQC)。 123 附圖2‒ 37:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2CH2Br)2] ([PPN]2[5]) 溶於 DMSO-d6 之 1H 核磁共振光譜圖。 124 附圖2‒38:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2CH2Br)2] ([PPN]2[5]) 溶於 DMSO-d6 之 13C 核磁共振光譜圖。 125 附圖2‒39:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2CH2Br)2] ([PPN]2[5]) 溶於 DMSO-d6 之異核單量子相關譜 (HSQC)。 126 附圖2‒40:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 於MeCN 測量之紫外/可見吸收光譜圖 (9.69 × 10−5 M)。 127 附圖2‒41:化合物 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2CH2Br)2] ([PPN]2[5]) 於MeCN 測量之紫外/可見吸收光譜圖 (9.94 × 10−5 M)。 128 附圖2‒42:[PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 之反射式固態紫外/可見光譜圖。 129 附圖2‒43:[PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2CH2Br)2] ([PPN]2[5]) 之反射式固態紫外/可見光譜圖。 130 附圖2‒44:[PPN]2[Se8Mn4(CO)12(Se)2] ([PPN]2[8]) 之反射式固態紫外可見光譜圖。 131 附圖2‒45:以玻璃碳電極於 MeCN 溶液中測量 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2Br)2] ([PPN]2[4]) 之 differential pulse voltammetry (DPVs) 圖譜。 132 附圖2‒46:以玻璃碳電極於 MeCN 溶液中測量 [PPN]2[Se10Mn6(CO)18(CH2CH2Br)2] ([PPN]2[5]) 之 differential pulse voltammetry (DPVs) 圖譜。 133 附圖 A‒1:化合物 [PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-A 之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids)。 141 附圖 A‒2:化合物 [PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-B之晶體結構圖 (30% probability thermal ellipsoids)。 142 附圖 A‒3:化合物 [PPh4][SeBiFe3(CO)9Cr2(CO)10] 之晶體結構圖 (需重新送測)。 143 附圖 A‒4:化合物 [PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-A 於 THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 144 附圖 A‒5:化合物 [PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-B 於 THF 溶液測量之紅外線光譜圖。 145 附圖 A‒6:化合物 [PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-B 於MeCN 溶液測量之低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 146 附圖 A‒7:化合物 [PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-A 於MeCN 溶液測量之低解析液相層析電噴灑游離質譜圖。 147   附表目錄 附表1‒1:[PPN]2[7] 之 X-ray 晶體數據 31 附表1‒2:[PPN]2[7] 之鍵長 (Å) 與鍵角 (deg) 32 附表2- 1:化合物之 [PPN]4[1]、[PPN]4[1′]、[PPN]2[2]、 [PPN]2[3]、[PPN]2[4] 及 [PPN]2[6] 晶體列表 82 附表2- 2: 化合物 [PPN]4[1]、[PPN]4[1′]、[PPN]2[2]、 [PPN]2[3]、[PPN]2[4] 及 [PPN]2[6] 晶體列表 之鍵長 (Å) 與鍵角 (deg) 84 附表 A‒1:化合物[PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-A、[PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-B 138 附表 A‒2:化合物[PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-A、[PPN]2[Se2Cr2Fe2(CO)12]-B 139

    第一章:
    1.(a) Mathew, A.; Pradeep, T. Part. Part. Syst. Charact. 2014, 31, 1017−1053. (b) Chem. Mater. 1998, 10, 947–949.
    2.(a) Shieh, M.; Ho, C.-H.; Sheu, W.-S.; Chen, H.-W. J. Am. Chem. Soc. 2010, 131, 4032–4033. (b) Ho, C.-H.; Chu, Y.-Y.; Lin, C.-N.; Chen, H.-W.; Huang, C.-Y.; Shieh, M. Organometallics 2010, 29, 4396–4405.
    3.(a) Shieh, M.; Chen, H.-S.; Yang, H.-Y.; Ueng, C.-H. Angew. Chem., Int. Ed. 1999, 38, 1252–1254. (b) Shieh, M.; Chen, H.-S.; Yang, H.-Y.; Lin, S.-F.; Ueng, C.-H. Chem.—Eur. J. 2001, 7, 3152–3158.
    4.林俞君,國立臺灣師範大學碩士論文,2014。
    5.Gottlieb, H. E.; Kotlyar, V.; Nudelman, A. J. Org. Chem. 1997,62, 7512–7515.
    6.Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Chastin, J., King, R. C. Jr., Eds.; Physical Electronics:  Eden Prairie, MN, 1992.
    7.Shriver, D. F.; Drezdzon, M. A. The Manipulation of Air-Sensitive Compounds. Wiley: 1986.
    8.黃宗毅,國立臺灣師範大學碩士論文,2016。
    9.Blessing, R. H. Acta Crystallogr., Sect. A 1995, 51, 33–38.
    10.Sheldrick, G. M. SHELXL-97; University of Göttingen: Göttingen, Germany, 1997.
    11.(a) Kotüm, G. Reflectance Spectroscopy, Springer-Verlag, New York, 1969. (b) Wendlandt, W. W.; Hecht, H. G. Reflectance Spectroscopy, Interscience Publishers, New York, 1966.
    12.Bressler C., Chergui M., Chem. Rev. 2004 , 104, 1781‒1812.
    13.詹昂,國立臺灣師範大學碩士論文,2013。
    14.謝明惠,劉郁欣,未發表之結果。
    15.(a) Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1992, 96, 2155–2160. (b) Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1992, 97, 9173–9177. (c) Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648–5652.
    16.Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, Revision E.01; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
    17.Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648–5652. (b) Perdew, J. P.; Wang, Y. Phys. Rev. B 1992, 45, 13244–13249.
    18.Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Scalmani, G.; Barone, V.; Mennucci, B.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Caricato, M.; Li, X.; Hratchian, H. P.; Izmaylov, A. F.; Bloino, J.; Zheng, G.; Sonnenberg, J. L.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Vreven, T.; Montgomery, J. A., Jr.; Peralta, J. E.; Ogliaro, F.; Bearpark, M.; Heyd, J. J.; Brothers, E.; Kudin, K. N.; Staroverov, V. N.; Kobayashi, R.; Normand, J.; Raghavachari, K.; Rendell, A.; Burant, J. C.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Cossi, M.; Rega, N.; Millam, J. M.; Klene, M.; Knox, J. E.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Martin, R. L.; Morokuma, K.; Zakrzewski, V. G.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Farkas, Ö.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cioslowski, J.; Fox, D. J. Gaussian, Inc., Wallingford CT, 2009.
    19.Wiberg, K. B. Tetrahedron 1968, 24, 1083─1096.
    20.(a) Reed, A. E.; Weinhold, F. J. Chem. Phys. 1983, 78, 4066−4073. (b) Reed, A. E.; Curtiss, L. A.; Weinhold, F. Chem. Rev. 1988, 88, 899−926.
    21.Gorelsky, S. I. AOMix program, http://www.sg-chem.net/.
    第二章:
    1.Najafpour, M. M.; Renger, G.; Holyńska, M.; Moghaddam, A. N.; Aro, E.-M.; Carpentier, R.; Nishihara, H.; Eaton-Rye, J. J.; Shen, J.-R.; Allakhverdiev, S. I. Chem. Rev. 2016, 116, 2886‒2936.
    2.Qiu, G.; Huang, H.; Dharmarathna, S.; Benbow, E.; Stafford, L.; Suib, S. L. Chem. Mater. 2011, 23, 3892-3901.
    3.He, W.; Zhao, K.-H.; Hou, H. J. M. NanoPhotoBioSciences, 2013, 1, 63.
    4.Colmer, H. E.; Howcroft, A. W.; Jackson, T. A. Inorg. Chem. 2016, 55, 2055‒2069.
    5.Kolling, D. R. J.; Cox, N.; Ananyev, G. M.; Pace, R. J.; Dismukes, G. C. Biophys. J. 2012, 103, 313‒322.
    6.Kostakis, G. E.; Ako, A. M.; Powell, A. K. Chem. Soc. Rev. 2010, 39, 2238‒2271.
    7.Layfield, R. A. Organometallics 2014, 33, 1084-1099.
    8.Aromí, G.; Aubin, S. M. J.; Bolcar, M. A.; Christou, G.; Eppley, H. J.; Folting, K.; Hendrickson, D. N.; Huffman, J. C.; Squire, R. C.; Tsai, H.-L.; Wang, S.; Wemple, M. W. Polyhedron 1998, 17, 3005−3020.
    9.(a). Shieh, M.; Ho, C.-H.; Sheu, W.-S.; Chen, H.-W. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 4032‒4033. (b) Ho, C.-H.; Chu, Y.-Y.; Lin, C.-N.; Chen, H.-W.; Huang, C.-Y.; Shieh, M. Organometallics 2010, 29, 4396‒4405.
    10.劉郁欣,謝明惠,未發表之結果。
    11.何佳樺,國立師範大學博士論文,2010。
    12.(a) Evans, D. F.; Fazakerley, G. V. and Phillips R. F. J. Chem. Soc. A, 1971, 0, 1931-1934.
    (b)http://www.wilmadlabglass.com/Support//NMR-and-EPR-Technical-Reports/NMR-007--Coaxial-Inserts-in-NMR-Studies/
    13.Shriver, D. F.; Drezdzon, M. A. The Manipulation of Air-Sensitive Compounds. Wiley: 1986.
    14.Blessing, R. H. Acta Crystallogr., Sect. A 1995, 51, 33−38.
    15.Sheldrick, G. M. SHELXL-97; University of Göttingen: Göttingen, Germany, 1997.
    16.(a)Kotüm, G. Reflectance Spectroscopy, Springer-Verlag, New York, 1969. (b) Wendlandt, W. W.; Hecht, H. G. Reflectance Spectroscopy, Interscience Publishers, New York, 1966.
    17.Moulder, J. F., Stickle, W. F., Sobol, P. E., Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Chastin, J., King, R. C. Jr., Eds.; Physical Electronics:  Eden Prairie, MN, 1992.
    18.(a) Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1992, 96, 2155–2160. (b) Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1992, 97, 9173–9177. (c) Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648–5652.
    19.Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Scalmani, G.; Barone, V.; Mennucci, B.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Caricato, M.; Li, X.; Hratchian, H. P.; Izmaylov, A. F.; Bloino, J.; Zheng, G.; Sonnenberg, J. L.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Vreven, T.; Montgomery, J. A., Jr.; Peralta, J. E.; Ogliaro, F.; Bearpark, M.; Heyd, J. J.; Brothers, E.; Kudin, K. N.; Staroverov, V. N.; Kobayashi, R.; Normand, J.; Raghavachari, K.; Rendell, A.; Burant, J. C.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Cossi, M.; Rega, N.; Millam, J. M.; Klene, M.; Knox, J. E.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Martin, R. L.; Morokuma, K.; Zakrzewski, V. G.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Farkas, Ö.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cioslowski, J.; Fox, D. J. Gaussian, Inc., Wallingford CT, 2009.
    20.Wiberg, K. B. Tetrahedron 1968, 24, 1083─1096.
    21.Reed, A. E.; Weinstock, R. B.; Weinhold, F. J. Chem. Phys. 1985, 83, 735−746. Reed, A. E.; Weinhold, F. J. Chem. Phys. 1983, 78, 4066−4073. (b) Reed, A. E.; Curtiss, L. A.; Weinhold, F. Chem. Rev. 1988, 88, 899−926.
    22.Gorelsky, S. I. AOMix program, http://www.sg-chem.net/
    附錄:
    A.1-3參考文獻
    1.Shriver, D. F.; Drezdzon, M. A. The Manipulation of Air-Sensitive Compounds. Wiley: 1986.
    2.簡立慈,國立台灣師範大學碩士論文,2012。
    3.黃宗毅,國立台灣師範大學碩士論文,2016。
    4.謝明惠,劉郁欣,未發表之結果。
    5.Blessing, R. H. Acta Crystallogr., Sect. A 1995, 51, 33–38.
    6.Sheldrick, G. M. SHELXL-97; University of Göttingen: Göttingen, Germany, 1997.
    7.(a) Kotüm, G. Reflectance Spectroscopy, Springer-Verlag, New York, 1969. (b) Wendlandt, W. W.; Hecht, H. G. Reflectance Spectroscopy, Interscience Publishers, New York, 1966.

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