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| 研究生： |
紀柏宇 Chi, Po-Yu |
|---|---|
| 論文名稱： |
探討氮化鈦介面層應用於氧化鋁鉿鐵電記憶體之電性可靠度研究 Electrical and Reliability Investigation of Hafnium Aluminum Oxide Ferroelectric Memory Using a Titanium Nitride Interface Layer |
| 指導教授： |
鄭淳護
Cheng, Chun-Hu |
| 口試委員： |
鄭淳護
Cheng, Chun-Hu 黃靖謙 Huang, Ching-Chien 高瑄苓 Kao, Hsuan-ling |
| 口試日期： | 2024/07/29 |
| 學位類別： |
碩士 Master |
| 系所名稱： |
機電工程學系 Department of Mechatronic Engineering |
| 論文出版年： | 2025 |
| 畢業學年度： | 113 |
| 語文別： | 中文 |
| 論文頁數： | 93 |
| 研究方法: | 實驗設計法 |
| 論文種類： | 學術論文 |
| 相關次數： | 點閱：4 下載：0 |
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電子全文延後公開2030/01/09