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研究生： 吳良彥
論文名稱： 濺鍍MgB2薄膜的X光吸收光譜
指導教授： 張秋男
學位類別： 碩士
Master
系所名稱： 物理學系
Department of Physics
論文出版年： 2003
畢業學年度： 91
語文別： 中文
論文頁數： 81
中文關鍵詞： 二硼化鎂 、超導體 、薄膜 、X光吸收光譜 、同步輻射
英文關鍵詞： MgB2, superconductor, film, X-ray absorption, synchrotron
論文種類： 學術論文
相關次數： 點閱：150  下載：3 
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    • 摘要
    MgB2是2001年由日本J. Akimitsu教授實驗室首先發現的新超導材料。由於其具有比一般傳統金屬性超導幾乎2倍的超導臨界溫度、高度的實際應用性，加上此材料的晶格結構及電子結構特殊，其超導性質無法完全以BCS理論解釋，而引起各界的高度關注。
    我們嘗試以兩階段方式成長MgB2膜於R-plane Al2O3上。首先以熱蒸鍍( Thermal Evaporator Deposition)和射頻磁控濺鍍(Radio Frequency Magnetron Sputtering Deposition)兩種鍍膜方式鍍出各種初級膜，再將初級膜置於高溫爐退火(annealing)處理。
    接著，我們將這些成長於R-plane Al2O3的薄膜拿至同步輻射中心做X光吸收譜的實驗，得知由熱蒸鍍所得的硼膜品質相當的好，無氧化情形，但在退火處理後，卻未發現硼膜有所變化。而濺鍍靶材Mg -rich MgB2所得的初級膜含有少量的B2O3，經退火處理後，發現B2O3消失，反而出現MgO的訊號。
    不過此樣品的B-edge吸收譜已接近MgB2 powder的吸收譜，故我們再嘗試不同的退火條件終於成功的製作出臨界溫度約30K的多晶(polycrystalline)MgB2膜。

    目錄 第一章 緒論 導體MgB2的簡介………………………………1 第二章 實驗儀器與樣品備製 2-1 熱蒸鍍系統與其薄膜成長……………………….……6 2-2 射頻磁控賤鍍系統與其薄膜成長………………….…14 2-3 初級薄膜的退火處理(高溫、高壓)……………….…22 第三章 X光近緣吸收光譜(XANES)簡介 3-1 X光吸收光譜原理……………………….….………..30 3-2 同步輻射光源簡介……………..……………….…….36 3-3 6m-HSGM光束線……………………..……..…..……39 3-4 X光近緣吸收光譜實驗裝置…………………………..42 第四章 B-edge及O-edge近緣吸收光譜實驗結果與討論 4-1-1 7-element Ge偵測器量測之光譜…………………...48 4-1-2 7-element Ge偵測器量測之光譜結果討論……..….51 4-2 MCP偵測器量測之吸收光譜……………………….53 4-2-1 B-edge吸收光譜結果與討論………………………54 4-2-2 O-edge吸收光譜結果與討論…………………..….60 4-2-3 Mg-edge吸收光譜結果與討論…………………….66 4-3 吸收光譜的討論總結……………….……….………70 第五章 目前實驗進展及未來方向 5-1 目前超導薄膜實驗進展……………………………….72 5-2 未來超導薄膜實驗展望………………..……….……..76 參考資料………………………………….……………..……..77 附錄A…………………………………………………………..79

    參考資料
    1-1 Nagamatsu, J., Nakagawa, N., Muranaka, T., Zenitani, Y. & Akimitsu, J. Nature 410, 63 (2001).
    1-2 Hyeong-Jin Kim, W. N. Kang, Eun-Mi Choi, Mun-Seog Kim, Kijoon H. P. Kim, and Sung-Ik Lee,Phys. Rev. Lett. 87, 087002 (2001)
    1-3 Hyoung Joon Choi, David Roundy, Hong Sun, Marvin L. Cohen & Steven G. Louie, Nature 418, 758 (2002)
    1-4 H. Schmidt, J.F. Zasadzinski, K.E. Gray, and D.G. Hinks, Phys. Rev. B 63, 220504 (2001)
    1-5 P. Seneor, C.-T. Chen, N.-C. Yeh, R. P. Vasquez, L. D. Bell, C. U. Jung, Min-Seok Park, Heon-Jung Kim, W. N. Kang, and Sung-Ik Lee, Phys. Rev. B 65, 012505 (2001)
    1-6 S. L. Bud’ko, G. Lapertot, C. Petrovic, C. E. Cunningham, N. Anderson, and P. C. Canfield, Phys. Rev. Lett. 86, 1877 (2001)
    1-7 Wang, Y., Plackowski, T. & Junod, Physica C 355, 179
    1-8 Yang, H. D. et al. Phys. Rev. Lett. 87, 167003 (2001)
    1-9 J.Kortus, I.I.Mazin, K.D.Belashchenko, V.P.Antropov, and L. L. Boyer, Phys. Rev. Lett. 86, 4656 (2001)
    1-10 J. Kortusy, I.I. Maziny, K.D. Belashchenko,z V.P. Antropovz, L.L. Boyer, cond-matt, 0101446 (2001)
    1-11 Warren Pickett, Nautre 418, 733 (2002)
    2-1 W. N. Kang, Hyeong-Jin Kim, Eun-Mi Choi, C. U. Jung, Sung-Ik Lee. Science 292, 1521 (2001).
    2-2 M.P. Paranthaman, D.K. Christen, H.M. Christen, J.R. Thompson,H.R. Kerchner, C. Cantoni, H.Y. Zhai Phys. C 378, 1252 (2002)
    2-3 M. Paranthaman, C. Cantoni, H. Y. Zhai, H. M. Christen, T. Aytug, S. Sathyamurthy,E. D. Specht, J. R. Thompson, D. H. Lowndes, H. R. Kerchner, and D. K. Christen. Appl. Phys. Lett. 78, 3669 (2001)
    3-1“ EXFAS,Basic Principle and Data Analysis”,edited by Boon K.Teo (Springer-Verlag 1986)
    3-2“X-ray Spectroscopy”, B. K. Agarwal, 2nd Edition, Springer Series in Optical Sciences, Vol. 15, Spring-Verlag, 1989.
    3-3 “X-ray Data Booklet”, D. Vaughan (Editor), Center for X-ray Optics, Lawrence Berkeley Laboratory, 1986.
    4-1 F. M. F. de Groot, M. Grioni and J. C. Fuggle, Phys. Rev. B 40, 5715 (1989).
    4-2 J.J. Jia, J.H. Underwood, E. M. Gullikson, T. A. Callcott, and R. C. C. Perera, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 80, 509 (1996)
    4-3 Jin Nakamura, Nobuyoshi Yamada, Kazuhiko Kuroki, Thomas A. Callcott, David L. Ederer, Jonathan D. Denlinger and Ruper C. C. Perera , Phys Rev. B 64 ,174504 (2001)
    4-4 T. A. Callcott, L. Lin, G.T. Woods, G.P. Zhang, J.R. Thompson, M. Paranthaman, and D. L. Ederer, Phys. Rev. B 64, 132504 (2001)

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