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研究生: 李伯威
論文名稱: 電鍍Py(100)/Cu(100)/H-Si(100)多層膜之磁性研究
指導教授: 盧志權
學位類別: 碩士
Master
系所名稱: 物理學系
Department of Physics
論文出版年: 2014
畢業學年度: 102
語文別: 中文
論文頁數: 74
中文關鍵詞: 單槽電鍍鎳鐵脈衝雷射多層薄膜
英文關鍵詞: Electroplating, Permalloy, Pulsed laser deposition, Multilayers
論文種類: 學術論文
相關次數: 點閱:100下載:3
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  • 利用單槽電鍍(Single bath electroplating)在室溫下製作單層至40層的鎳鐵(Py;Ni80%Fe20%)與銅磊晶多層薄膜,使用脈衝雷射沉積法(Pulsed laser deposition;PLD)鍍銅電極層50nm於H-Si(100)為鍍膜基板,Cu(100)是藉由旋轉45度使晶格失配度(lattice mismatch)從33.3%降為5.7%,故能磊晶的必要條件。樣品經由SEM與EDS觀察表面形貌並確定成分比例正確,再由X光繞射實驗證明Py(100)能穩定磊晶在Cu(100)上。另外X光Phi-scan量測也證實基板與薄膜的晶向關係為Si[110]//Cu[010]//Py[010] ,多層膜的X光繞射量測到隨層數增加而Py(100)與Cu(100)訊號強度增強,但沒有觀察到多層膜的X光紹熱衛星信號,這由於各層顆粒隨著週期數增加而變大造成衛星信號消失。
    在磁性量測上,經由LMOKE量測,與Py薄膜不同,(Py/Cu)n/Cu/H-Si(100)多層膜樣品顯現出強烈同向性,這量測與立方晶格結構不一致,然而此結果原因尚不清楚。Py12nm/Cu30nm系列多層膜樣品矯頑場從單層5.9Oe增加到40層之8.5Oe,另一系列樣品Py12nm/Cu3nm矯頑場亦隨層數增加,由單層9.2Oe增加到40層27.75Oe。其他磁性參數由FMR量測經計算得出阻尼常數在Py12nm/Cu30nm 系列由1.61x10-1隨層數增加至3.038x10-1 。另外Py12nm/Cu3nm多層膜系列的阻尼常數則是由1.25x10-1 至 1.29,符合表面顆粒變大而線寬增加影響阻尼常數增加。

    目錄 第一章 緒論 1 第一節 前言 1 第二節 研究動機 1 第二章 文獻回顧 3 第一節 薄膜成長理論 3 2-1.1 成長模式 3 2-1.2 成長理論 4 第二節 磁性物質 6 2-2.1 磁性來源 6 2-2.2 磁性物質的種類 7 2-2.3 鐵磁性物質的特性 9 第三節 微觀磁性 10 2-3.1 磁晶異向性 13 2-3.2 形狀異相性[46] 13 第四節 柯爾磁光效應 14 第五節 鐵磁共振 18 第六節 平衡位置與半寬高 22 第七節 電鍍 24 2-7.1電雙層原理 24 2-7.2循環伏安法 25 第三章 實驗方法與儀器 27 第一節 基板清洗 28 第二節 銅電極層的製程 28 2.1高真空直流濺鍍系統實驗流程: 28 2.2脈衝雷射沉積系統實驗流程: 30 第三節 循環伏安法 31 第四節 電鍍 32 第五節 儀器介紹 33 3.5.1 掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscopy; SEM)[x] 33 3.5.2能量散射光譜儀(Energy Dispersive Spectrometer; EDS)[x] 33 3.5.4 磁光柯爾量測儀(Magneto-optical Kerr Effect; MOKE) 34 3.5.5 鐵磁共振頻譜儀 (Ferromagnetic resonance; FMR)[X] 35 3.5.6 X光繞射儀(X-ray diffraction; XRD) 37 第六節 實驗步驟 39 第四章 實驗結果與討論 43 第一節 NI0.5M+FE0.02M+硼酸0.4M電鍍液 43 4-1.1 CV曲線 43 4-1.2成分分析 44 第二節 NI0.5M+FE0.02M+CU0.02M+硼酸0.4M電鍍液 44 4-2.1 CV曲線 44 4-2.2成分分析 45 4-2.3 XRD分析 46 第三節 PY12NM/CU30NM多層膜系統 47 4-3.1 SEM分析 47 4-3.2 XRD分析 48 4-3.3 磁性量測 Moke分析 56 4-3.4 FMR分析 59 第四節 PY12NM/CU3NM多層膜系統 62 4-4.1 SEM分析 62 4-4.2 XRD分析 63 4-4.3 磁性量測 Moke分析 66 4-4.4 FMR分析 67 第五章 結論 71 第六章 未來研究方向 72 第七章 參考文獻 73 圖目錄 圖2-1.1-1 薄膜成長模式示意圖(a)FM mode(b)SK mode(c)VW mode…………3 圖2-2.2-1不同磁性的磁矩排列方式示意圖(a)順磁性(b)鐵磁性(c)亞鐵磁性(d)反鐵磁性………………………………………………………………………………8 圖2-2.3-1鐵磁性材料的磁區結構式意圖…………………………………………9 圖2-2.3-2 磁滯曲線示意圖………………………………………………………10 圖2-3-1 θ角示意圖………………………………………………………………11 圖2-3-2 K∙t_co對t_co………………………………………………………………12 圖2-3.1-1磁晶異向性示意圖……………………………………………………13 圖2-3.2-1棒狀磁鐵於磁場時其磁力線分佈圖…………………………………14 圖2-4-1 三種MOKE形態示意圖…………………………………………………17 圖2-4-2 P mode及S mode示意圖…………………………………………… 18 圖2-5-1 鐵磁共振示意圖……………………………………………………… 18 圖2-5-2 在外加磁場下磁矩的進動…………………………………………… 19 圖2-5-3 當考慮阻尼效應後磁矩進動的示意圖………………………………21 圖2-6-1 FMR分析上所使用的座標示意圖…………………………………… 22 圖2-6-2 Hr與線寬示意圖………………………………………………………23 圖2-7.1-1 電雙層模式………………………………………………………… 25 圖2-7.2 1 循環伏安法(a)電位-時間關係圖(b)電流-電位關係圖………… 26 圖3-2.1-1 濺鍍系統…………………………………………………………… 29 圖3-2.2 -1 能量衰減器……………………………………………………… 30 圖3-2.2 -2 脈衝雷射沉積系統……………………………………………… 31 圖3-3-1 電鍍槽裝置示意圖…………………………………………………… 32 圖3-4-1 恆電位儀外觀………………………………………………………… 33 圖3-5.3-1 MOKE………………………………………………………………… 36 圖3-5.4-1 FMR儀器配置圖…………………………………………………… 36 圖3-5.4-2 FMR儀器圖………………………………………………………… 37 圖3-5.5-1晶格繞射與布拉格方程式幾何示意圖…………………………… 37 圖3-5.5-2 GIXRD幾何示意圖………………………………………………… 38 圖3-5.5-3 in-plane ϕ-scans量測………………………………………… 39 圖3-6-1 樣品座………………………………………………………………… 42 圖3-6-2 FMR儀器控制介面…………………………………………………… 42 圖4-1.1-1 CV:Ni0.5M+Fe0.02M+硼酸0.4M電鍍液………………………… 43 圖4-1.2-1成分分析圖…………………………………………………………… 44 圖4-2.1-1 CV:Ni0.5M+Fe0.02M+Cu0.02M+硼酸0.4M電鍍液……………… 45 圖4-2.2-1成分分析圖…………………………………………………………… 45 圖4-2.3-1 PLD製成Cu基板再電鍍鎳鐵銅的XRD圖………………………… 45 圖4-2.3-2 濺鍍製成Cu基板再電鍍鎳鐵銅的XRD圖………………………… 46 圖4-3.1-1 Py12nm/Cu30nm不同層數1萬倍SEM圖…………………………… 47 圖4-3.1-1 Py12nm/Cu30nm不同層數5萬倍SEM圖…………………………… 48 圖4-3.2-1 X RD各X光在不同激發元素所對應的波長大小………………… 49 圖4-3.2-2 樣品Cu(50nm)/H-Si(100) XRD圖……………………………… 49 圖4-3.2-3 (Py12nm/Cu30nm)/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) …………………… 51 圖4-3.2-4 (Py12nm/Cu30nm)6/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) …………………… 51 圖4-3.2-5 (Py12nm/Cu30nm)11/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) ………………… 52 圖4-3.2-6 (Py12nm/Cu30nm)20/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) ………………… 52 圖4-3.2-7 (Py12nm/Cu30nm)40/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) ………………… 53 圖4-3.2-8 (Py12nm/Cu30nm) /Cu50nm(PLD)/H-Si(100)XRDϕ-scans量測 53 圖4-3.2-9 (Py12nm/Cu30nm)5 /Cu50nm(PLD)/H-Si(100)XRDϕ-scans量測 54 圖4-3.2-10(Py12nm/Cu30nm)10 /Cu50nm(PLD)/H-Si(100)XRDϕ-scans量測 54 圖4-3.2-11 晶格方向示意圖………………………………………………… 55 圖4-3.2-12 晶格(100)方向上的俯視圖,其中金色點為Cu;銀色點為Si 55 圖4-3.2-13 Cu(111) on Py(100)/Cu(100)/H-si(100) 匹配示意圖(2013 趙晉宏) ……………………………………………………………………………… 56 圖4-3.3-1 LMOKE樣品Py12nm/Cu30nm/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) ………… 57 圖4-3.3-2 各層數下(6層、11層、20層、40層)LMoke圖………………… 57 圖4-3.3-3 矯頑場(coercivity,Hc)對Py/Cu層數間的關係圖……………… 58 圖4-3.3-4 熱蒸鍍法製作Py(15nm)/Cu(30nm)/H-Si(100) ………………… 58 圖4-3.4-1 各PyCu層數下的共振磁場……………………………………… …59 圖4-3.4-2 各層數下且θ=90度的共振磁場Hr……………………………… 60 圖4-3.4-3 各Py/Cu層數下,隨著θ改變所對應的Hpp……………………… 60 圖4-3.4-4 各Py/Cu層數下的阻尼常數………………………………………… 61 圖4-4.4-5 各Py/Cu層數下顆粒大小與阻尼常數比較…………………………61 圖4-4.1-1 Py12nm/Cu3nm不同層數1萬倍SEM圖…………………………… 62 圖4-4.1-2 Py12nm/Cu3nm不同層數5萬倍SEM圖…………………………… 62 圖4-4.2-1 (Py12nm/Cu3nm)/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) ……………………… 63 圖4-4.2-3 (Py12nm/Cu3nm)5/Cu30nm(電鍍)/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) …… 64 圖4-4.2-3 (Py12nm/Cu3nm)10/ Cu30nm(電鍍)/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) … 64 圖4-4.2-3 (Py12nm/Cu3nm)20/ Cu30nm(電鍍)/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) … 65 圖4-4.2-3 (Py12nm/Cu3nm)40/ Cu30nm(電鍍)/Cu50nm(PLD)/H-Si(100) … 65 圖4-4.3-1各層數(單層、5層、10層、20層)下LMOKE圖………………… 66 圖4-4.3-2矯頑場(coercivity,Hc)對Py/Cu層數間的關係圖……………… 66 圖4-4.4-1 各Py/Cu層數下的共振磁場……………………………………… 67 圖4-4.4-2各層數下且θ=90度的共振磁場Hr………………………………… 67 圖4-4.4-3 各Py/Cu層數下,隨著θ改變所對應的Hpp……………………… 68 圖4-4.4-4 各Py/Cu層數下的阻尼常數 ……………………………………… 68 圖4-4.4-5 各Py/Cu層數下顆粒大小與阻尼常數比較…………………………69 表目錄 表1-2-1 各種鍍膜方法比較 ………………………………………………………2 表2-1.2-1 常見材料的表面自由能……………………………………………… 5 表3-2.1-1 相關濺鍍參數………………………………………………………… 29 表3-4-1 電鍍液成分表…………………………………………………………… 32

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